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SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器臺(tái)階儀器臺(tái)階高度重復(fù)性能低于5A,Z0向測(cè)量量程可到1050um。最高垂直分辨率可達(dá)亞埃米級(jí),且垂直方向動(dòng)態(tài)比率高,可以獲取表面輪廓形貌、粗糙度、波紋度、形狀誤差及其它一些形貌特征等綜合信息。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):NS200
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?CEM3000中圖儀器國(guó)產(chǎn)電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
瀏覽量:125
SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-10-15
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器的CEM3000臺(tái)式SEM掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅(jiān)固耐用得多。它具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測(cè)器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn),獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-10-15
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
瀏覽量:111
中圖臺(tái)階儀廠家采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。
更新時(shí)間:2025-10-13
產(chǎn)品型號(hào):NS200
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